作者: 恩云飞 / 谢少锋 / 何小琦
出版社: 电子工业出版社
出版年: 2015-10
页数: 444
定价: 88.00元
装帧: 平装
丛书: 可靠性技术丛书
ISBN: 9787121272325
本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。
7B4电子书网所提供的电子书、电子书文档等资源，来源于互联网收集.版权归原作者所有，电子书资源只做学习和交流使用，下载后请在24小时内删除文件。虽然您在本站可以找到这些电子书资源，但除了可以在网上浏览或下载之外，我们并未授权您将这些电子书资源用于其它任何商业用途。如果因为您将本站资源用于其他用途而引起的纠纷，本站不负任何责任。本站发布的内容若侵犯到您的权益，请联系站长删除，我们将及时处理！ 站长邮箱:181989211@qq.com
