中文名:统计模式识别（第三版）
作 者:Andrew R. Webb、Keith D. Copsey
原作品:Statistical Pattern Recognition
译 者:王萍
出版社:电子工业出版社
出版时间:2015年1月
ISBN:9787121250125
千字数:800
本书系统地介绍统计模式识别的理论和技术，并讨论机器学习领域的诸多问题和相关算法，反映模式识别理论和技术的最新研究进展。其中，大部分识别和分类问题取材于工程学、统计学、计算机科学和社会学等领域的相关应用，并配有应用研究实例。与前版相比，充实或新增了关于估计概率密度的贝叶斯方法、估计概率密度的新的非参数方法、新的分类模型、谱聚类问题、分类规则的归纳法、复杂网络等方面的介绍。
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