作者: 恩云飞 / 来萍 / 李少平
出版社: 电子工业出版社
出版年: 2015-11
页数: 476
定价: 98.00元
装帧: 平装
丛书: 可靠性技术丛书
ISBN: 9787121272301
本书是工程应用类书，主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。
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