作者: 布什内尔
出版社: 第1版 (2005年8月1日)
出版年: 2005-8
页数: 511
定价: 58.0
装帧: 平装
丛书: 国外电子与通信教材系列
ISBN: 9787121014901
《超大规模集成电路测试：数字存储器和混合信号系统》可作为高等学校计算机、微电子、电子工程、无线电及自动控制、信号处理专业的高年级学生与研究生的教材和参考书，也可供从事上述领域工作的科研人员参考，特别适合于从事VLSI电路设计和测试的工程技术人员。
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