作者: 刘斌
出版社: 电子工业出版社
副标题: 从系统理论到UVM的验证全视界
出版年: 2018-4-1
页数: 560
定价: 99
装帧: 平装
ISBN: 9787121339011
资深验证专家刘斌（路桑）向您全面介绍芯片验证，从验证的理论，到SystemVerilog语言和UVM验证方法学，再到高级验证项目话题。这本综合性、实用性的验证理论和编程方面的图书，针对芯片验证领域不同级别的验证工程师，给出由浅入深的技术指南：学习验证理论来认识验证流程和标准，学习SystemVerilog语言和UVM方法学来掌握目前主流的动态验证技术，了解高级验证话题在今后遇到相关问题时可以参考。
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